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公司基本資料信息
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源表定義
“源表”又稱“數(shù)字源表”、“源測量單元”,是一種可編程控制,作電壓源或電流源提供精確的電壓或電流,并同步測量和IV掃描的通用儀表。
源表特點:
多功能:可作源和負載,又能測;
高效率:滿足多種測試需求;
可編程控制:高精度可調,靈活控制;
IV掃描:快速、直觀顯示,一步操作。
應用領域:
分立半導體器件特性測試,電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件;
能量與效率特性測試,LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等
傳感器特性測試,電阻率、霍爾效應等
有機材料特性測試,電子墨水、印刷電子技術等
納米材料特性測試,石墨烯、納米線等
測試功能:
微電路 |
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1 |
晶圓 |
L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線 |
2 |
芯片 |
L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線 |
器件 |
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1 |
二極管 |
正向導通電壓、正向電流、反向擊穿電壓、反向漏電流 |
2 |
三極管 |
L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線 |
3 |
MOSFET |
L-IV測試,輸入曲線、輸出曲線 |
4 |
IGBT |
L-IV測試,輸出曲線、轉移曲線 |
5 |
晶閘管 |
正向電壓電流曲線、反向電壓電流曲線、觸發(fā)特性 |
電池 |
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1 |
鋰電池 |
IV測試,充放電掃描曲線 |
2 |
光伏電池 |
IV測試,放電掃描曲線 |
材料 |
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1 |
石墨烯 |
IV測試、輸入曲線、輸出曲線 |
2 |
納米線 |
IV測試、輸入曲線、輸出曲線 |
對標2400國產(chǎn)數(shù)字源表S300型特點:
1、5寸800*480觸摸顯示屏,全圖形化操作
2、內(nèi)置強大的功能軟件,加速用戶完成測試,如LIV、PIV
3、源及測量的準確度為0.1%,分辨率5數(shù)位
4、四象限工作(源和肼),源及測量范圍:電流100pA~1A,電壓0.3mV~300V
5、豐富的掃描模式,支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
6、支持USB存儲,一鍵導出測試報告
7、支持多種通訊方式,RS-232、GPIB及以太網(wǎng)
S系列源表參數(shù):
源限度 |
電壓源: +30V (≤1A量程) , +300V (≤100mA量程) ; |
電流源 |
士1.05A(≤30V量程),+105mA (≤300V量程) ; |
過量程 |
105%量程,源和測量; |
穩(wěn)定負載電容 |
<22nF ; |
寬帶噪聲(20MHz) |
2mVRMS(典型值),<20mVVp-p(典型值); |
線纜保護電壓 |
輸出阻抗1K9 ,輸出電壓偏移<80uV ; |
最大采樣速率 |
1000采樣點/秒; |
觸發(fā) |
支持IO觸發(fā)輸入及輸出,觸發(fā)極性可配置; |
輸出接口 |
前后面板香蕉頭插座輸出,同- -時刻只能用前或者后面板接口; |
通信口 |
RS-232、GPIB、 以太網(wǎng); |
電源 |
AC 100~ 240V 50/60Hz ; |
工作環(huán)境 |
25+10°C ; |
尺寸 |
106mm高x 255mm寬x 425mm長; |
重量 |
5Kg ; |
質保期 |
3年; |
國產(chǎn)優(yōu)勢
1、自主研發(fā),符合大環(huán)境下國內(nèi)技術自給的需求;
2、性價比高;
3、可及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比系統(tǒng)解決方案。及時指導客戶編程,加速測試系統(tǒng)開發(fā)。
常見答疑:
1、 為什么你們的測量精度比不上進口產(chǎn)品?
0.1%精度已能滿足絕大部分行業(yè)應用,具有更高的性價比。普賽斯儀表也在研發(fā)更高精度的源表,不過價格會稍高。
2、 通道數(shù)量所體現(xiàn)的具體產(chǎn)品差異是什么?
對于很多芯片而言,往往需要多個通道的源表進行測試。集成多個通道有利于減少系統(tǒng)體積、減少開發(fā)難度。目前普賽斯儀表臺式源表僅提供單通道。但插卡式源表可實現(xiàn)多通道。
3、 普通源表與插卡式源表的具體異同?
插卡式源表是一種無觸屏顯示的、由多種源表子卡組成的組合式儀表。子卡功能與臺式源表功能基本一致,子卡必須在特定的主機內(nèi)才能工作。插卡式源表由上位機控制,具有單位體積內(nèi)通道密度更高、可根據(jù)實際情況自由組合源表子卡等特點,最高可支持達40通道。目前已規(guī)劃單卡單通道和單卡4通道源表子卡。
4、關于軟件
S系列軟件,兼容2400和2450,對使用2400和2450搭建的已有測試系統(tǒng),可以實現(xiàn)替換,而無需修改測試系統(tǒng)軟件。
5、關于測試搭建
簡易測試連接電極直接測試,其它要求可采取與探針臺,測試機配套使用。
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